芯片溫度檢測，你都知道哪些方法？

使用熱電偶測量??（接觸式測溫，易產(chǎn)生誤差）

參照經(jīng)典的結溫方程（TJ = TA + PDϑJA ）計算溫度??（相對保守，與實(shí)際溫度差別較大）

利用二極管作為溫度傳感器來(lái)檢測??（只適用于某些特定情況）

......

上述幾種測溫方法，都不能完全適用于芯片各環(huán)節的溫度檢測，那么，如何才能實(shí)現精準高效測溫？

紅外熱像儀是一種非接觸的測溫儀器，可以通過(guò)對物體表面的熱（溫度）進(jìn)行分布成像與分析，直接“看見(jiàn)”芯片的溫度分布。

芯片熱像檢測應用案例

1. 溫度直觀(guān)精準

▲功率芯片溫度檢測

圖片為L(cháng)ED功率型芯片測試，芯片尺寸為1mm*1mm，需要觀(guān)測LED通電后芯片表面的溫度分布情況。黃色圓點(diǎn)表示上電后金屬芯片的溫度情況，6個(gè)黃點(diǎn)應該保持溫度一致，2個(gè)白色圓點(diǎn)表示非金屬區域的溫度，應保持一致。

由于芯片較小，接觸測量的話(huà)容易因接觸物而改變芯片自身溫度。FOTRIC 熱像儀為非接觸測溫，30mk的熱靈敏度，能精準檢測各部位的溫差，判斷是否符合要求。

2. 全輻射熱像視頻     ▲貼片保險熔斷測試

貼片保險用于保護電路板，當電流過(guò)大時(shí)，保險會(huì )熔斷以保護電路。在測試中，我們需要及時(shí)觀(guān)察貼片保險的溫度變化，而熔斷過(guò)程只有300ms左右，很難通過(guò)拍照捕捉到。

而FOTRIC 熱像儀的全輻射熱像視頻錄制功能，可以實(shí)時(shí)記錄通電過(guò)程的溫度變化和分布情況，可隨時(shí)查看溫升曲線(xiàn)，還可以對視頻進(jìn)行后期的任意分析，便于發(fā)現問(wèn)題，改善設計。

3. 配備20μm/50μm 微距鏡

▲搭配微距鏡微觀(guān)檢測

      芯片小至0.5mm×1.0mm，FOTRIC 熱像儀支持20μm、50μm微距鏡，可直接對未封裝前細小芯片進(jìn)行微米級的微觀(guān)溫度成像檢測，發(fā)現過(guò)熱連接線(xiàn)和連接點(diǎn)，改進(jìn)芯片設計。

4. 強大的軟件支持

對所采集到的溫度數據，配合AnalyzIR軟件做分析時(shí)的3D溫差模式（ΔT）,可以直觀(guān)觀(guān)測到設計溫度或理論值之外的異常熱分布，并提供趨勢圖、三維圖、數值矩陣等多種工具，有助于芯片的設計優(yōu)化。

如果您對熱像儀的選購及使用方法有任何疑問(wèn)，可以關(guān)注樂(lè )信智測儀器，樂(lè )信智測工程師會(huì )為您解答疑惑。 

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